2019-2020年度製品総合カタログ

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リード線の温度変化による影響 リード線1m当たりの往復の抵抗値 リード線の結線によるゲージ率の補正一般的な結線方法と使用リード線ひずみゲージに付加されるリード線の抵抗によって、ひずみ感度の低下と温度影響によるドリフトが生じます。リード線の抵抗を低く抑えるために、可能な限り太く短い電線をリード線に使うことをお勧めします。デジタル静ひずみ測定器、データロガーCsの値をひずみ測定器に係数として設定すると、ひずみ値が直読になります。ひずみゲージとリード線の結線ひずみ測定の際、ひずみゲージと測定器間のリード線を長く結線すると、リード線の線抵抗により見掛け上ゲージ率が低下するため、補正が必要となります。ひずみの完全な補正法の場合＊当社“ひずみの完全な補正法”方式を搭載の測定器で同機能を使用した場合、上記の補正は不要です。“ひずみの完全な補正法”方式については280頁をご覧ください。＊また、“１ゲージ４線式測定法”を使用する場合も、上記の補正は不要です。“１ゲージ４線式測定法”については27〜28頁をご覧ください。Ａ＝ＲＲ＋ｒＬＲＲ＋ｒＬCS＝　　 CS：測定器の係数設定値K0：リード線を補正したゲージ率2.00K0基本的なひずみゲージの取扱い1ゲージ法（2線式結線）の場合にリード線に温度変化が生じますと、リード線の抵抗変化に基づく熱出力が発生します。尚、1ゲージ法3線式結線法及び、1ゲージ4線式ではリード線の温度による影響はありません。＊ブリッジの構成については25〜26頁をご覧ください。ブリッジの構成使用するリード線測定中に温度変化のある場合1ゲージ法2線式結線法平行線不適1ゲージ法3線式結線法3平行線適1ゲージ4線式4平行線適2ゲージ法平行線3平行線適4ゲージ法4心ケーブル適リード線の結線法ひずみゲージとの結線2線式（1ゲージ法2線式結線法）3線式（1ゲージ法3線式結線法）2線式の場合3線式の場合リード線の補正係数Ａ補正したゲージ率Ｋ0はＫ0＝　　　　Ｋ＝ＡＫリード線の補正係数Ａ補正したゲージ率Ｋ0はＫ0＝　　　　Ｋ＝ＡＫＫ：ゲージパッケージに記載　 されているゲージ率共通線独立線Ａ＝ＲＲ＋rL2rL2ＲＲ＋Ｒ：ゲージ抵抗（Ω）ｒ：リード線１m当たりの　　往復の抵抗値（Ω／m）Ｌ：リード線の長さ（m）より線の場合単心線の場合構成（心数／直径）7/0.1210/0.127/0.167/0.1812/0.1820/0.18リード線の断面積（mm2）0.080.110.140.180.30.51m当たりの往復抵抗値（Ω）0.440.320.240.200.120.07構成（心数／直径）ポリイミド線（φ0.14mm）ポリイミド線（φ0.18mm）リード線の断面積（mm2）0.0150.0251m当たりの往復抵抗値（Ω）2.51.5 ひずみ測定器へのゲージ率設定方法41ひずみゲージ1基本的なひずみゲージの取扱い